NEC、ジョン・F・ケネディ国際空港に入国審査用の顔認証システムを納入　世界1位の照合精度の評価も

NECは、Unisys社を通じて、ニューヨークのジョン・F・ケネディ国際空港に、入国審査用の顔認証システムを納入した。

アメリカではセキュリティ向上とスムーズな入国審査の実現を目的として、国土安全保障省税関・国境取締局（CBP）が全米の国際空港で出入国管理を強化しており、その一環。納入したのは顔認証システム「NeoFace（ネオフェイス）」で、Unisys社の入国審査用の自動ゲートで読み取ったeパスポートの顔写真データと、ゲートに備え付けられたカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合し、同一人物であるかどうかを高精度に判定する。ビザ免除プログラム「ESTA」を使って初めてアメリカに入国する旅行者とeパスポートを保有するアメリカ国籍の帰国者を対象に、システムの運用を開始している。

NECの顔認証技術は、アメリカ国立標準技術研究所が実施したベンチマークテストで、世界1位の照合精度を有するとの評価を得ており、アメリカ・アリゾナ州交通局、ブラジル主要14国際空港の税関業務など世界40ヶ国以上で導入されている。

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